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      2. 歡迎訪問蘇州曼戈斐儀器有限公司 服務熱線:400-021-5870

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        日立超聲波掃描儀

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        日立超聲波掃描儀

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        應用范圍:
        檢查IC封裝及電子部品內部的剝離,裂痕,空隙等缺陷。


        特性:
        高品質(Fine):
        新開發500MHz超音波探傷儀,大富提高影像品質,高精密度掃瞄,可產生0.5um 解析度圖形17500 x 7500。
        快速(Fast):
        掃瞄機速度高達1000mm/sec,較傳統增加67%, 搭配加大掃瞄區域,增加其單位處理量。
        彈性(Flexible):
        配合各種需求可搭配各式探頭(Probe),提供更強的客製功能與使用的方便性。
         
        產品功能:
        立體傾斜式掃瞄(S-Image,日立專利):
        幫助更容易取得焦點位置。
        多重影像、參數儲存(Image Index,日立專利):
        所有參數可以與影像同時儲存,對于類似待測物(Sample)可迅速取得影像。
        自動多層掃瞄(Multi-gate Image):
        在既定的高度,可取得多達64層影像。
        完整的探頭(Probe)組合。



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